薄膜介質(zhì)損耗儀介電常數(shù)測試儀

簡要描述：薄膜介質(zhì)損耗儀介電常數(shù)測試儀用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究。介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)。通過測定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。

產(chǎn)品型號： HD-JD1

所屬分類：介電常數(shù)測試儀

更新時(shí)間：2025-06-20

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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詳情介紹

品牌	霍爾德?電子	產(chǎn)地	國產(chǎn)

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)。通過測定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。

薄膜介質(zhì)損耗儀介電常數(shù)測試儀是一種用于精確測量材料介電性能的專業(yè)儀器，主要應(yīng)用于以下領(lǐng)域：

1.科研機(jī)構(gòu)——用于新型電介質(zhì)材料的性能分析與理論研究，為材料科學(xué)領(lǐng)域的創(chuàng)新提供實(shí)驗(yàn)依據(jù)；

2.高等院校——作為教學(xué)與科研的重要設(shè)備，支撐材料學(xué)、物理學(xué)、電子工程等學(xué)科的實(shí)驗(yàn)研究；

3.工業(yè)企業(yè)——用于無機(jī)非金屬材料（如陶瓷、玻璃、高分子復(fù)合材料等）的質(zhì)量控制與性能優(yōu)化，指導(dǎo)產(chǎn)品開發(fā)與工藝改進(jìn)。

該儀器在電子元器件、絕緣材料、新能源器件等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值，為新型功能材料的研發(fā)與產(chǎn)業(yè)化提供關(guān)鍵測試手段。

薄膜介質(zhì)損耗儀介電常數(shù)測試儀

薄膜介質(zhì)損耗儀介電常數(shù)測試儀參考標(biāo)準(zhǔn)

u GB/T 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法；

u GB/T 1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法；

u ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法；

u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測試方法。

技術(shù)參數(shù)

1	信號源	DDS數(shù)字合成 10KHZ-70MHz
2	采樣精度	11BIT
3	測量范圍	1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程
4	分辨率	0.1
5	測量工作誤差	<5%
6	電感測量范圍	分辨率0.1nH
7	電感測量誤差	<3%
8	調(diào)諧電容	主電容30-540pF
9	電容直接測量范圍	1pF～2.5uF
10	調(diào)諧電容誤差	±1 pF或<1% 0.1pF
11	諧振點(diǎn)搜索	自動(dòng)掃描
12	合格預(yù)置范圍	5-1000聲光提示
13	LCD顯示參數(shù)	F，L，C，Q，Lt，Ct等
14	介質(zhì)損耗系數(shù)精度	萬分之一
15	介電常數(shù)精度	千分之一
16	材料測試厚度	0.1mm-10mm
17	技術(shù)	儀器自動(dòng)扣除殘余電感和測試引線電感。大幅提高測量精度。大電容值直接測量顯示。數(shù)顯微測量裝置，直接讀值。

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