葉面積指數測量儀

測試原理與方法

葉面積指數測量儀采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據光線穿過介質減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下，植物冠層圖象分析儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中最準確和省力、省時、快捷方便的方法。

結構組成
葉面積指數測量儀由魚眼圖像捕捉探頭（由魚眼鏡頭及CMOS圖像傳感器組成）、內置25個PAR傳感器的測量桿（搖臂）、筆記本電腦、圖像分析軟件組成。魚眼探頭安裝在一個很輕的搖臂的頂端，它可以獲取180°視角的魚眼圖像。圖像的顯示和存貯由配置的筆記本計算機完成。

技術指標
1.可測量指標：
葉面積指數
葉片平均傾角
聚集指數1
聚集指數2
樹冠開闊度
天空散射光透過率
不同太陽高度角下的植物冠層直射輻射透過率（間隙率透光率）
不同太陽高度角下冠層的消光系數
葉面積密度的方位分布（不透光率）
光合有效輻射（PAR）
2.鏡頭角度：180°
3.分辨率：2592×1944
4.測量范圍：天頂角由0°～90°(180°魚眼鏡頭)可分割成十個區域，方位角360°亦可分割成十個區域
5.PAR感應范圍：感應光譜400nm～700nm
6.測量范圍0～3000μmol/㎡•S
7.分析軟件：植物冠層分析系統
8.重量：500g
9.工作及存儲環境：-10℃~55℃≤85%相對濕度
10.傳輸接口：USB